天线辐射特性测量法分类天线辐射特性测量方法(二)
近场方法近场测量技术就是在天线的近场区的某一表面上采用一个特性已知的探头来取样场的幅度和相位特性,通过严格的数学变换而求得天线的远场辐射特性的技术。根据取样表面的形状,近场测试场分为3种,即平面测试场、柱面测试场和球面测试场。
近场测量技术的主要优点是:所需要的场地小,可以在微波暗室内进行高精度的测量,免去了建造大型微波暗室的困难。测量受周围环境的影响较小,保证全天候都能顺利进行。测量的信息量大,组合天线商家,通过在近场区的某一表面的取样可以精地得出天线任意方向的远场幅度相位和较化特性。近场测量技术将在*7章详细论述。
如何选择平板天线(二)
挑选平板天线的幅度一频率特性。通过平板天线的工作原理,我们知道了辐射单元的尺寸是由工作频率所决定的。因此我们自然会想到当频率或波长改变时,那个固定尺寸的辐射单元还能是半波振子吗?如果不再是半波振子,就不再是谐振状态,组合天线生产,就会损耗加大,辐射减小,这意味着增益变小。由此我们感到,工作频率范围越宽,不谐振的可能性也就越大,损耗就会加大,增益减小的范围也就越大,增益一频率特性就越差。
经过分析,组合天线,我们应该明白平板天线的增益(dB)数据是在什么工作频率下给出的,在其它频率范围内,增益还会是这个数值吗?所以我们挑选平板天线的增益应在整个工作频率范围内变化不大或基本不变的平板天线。可以肯定地讲,工作频率范围越大,增益越难保持不变。