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平板天线技术关键（二）

联接损耗。无论是振子式平板天线，还是缝隙式平板天线，在天线面上都有许许多多的振子或缝隙组成的辐射单元天线阵，这些辐射单元要与传输线(微带或波导)联接，它们往往是两两并联再与传输线联接。我们知道，电路每并联一次，深圳组合天线，阻抗就会改变一次，就有可能增加损耗、联接越多，损耗就越大。辐射单元越多，就越不好联接。因此我们说，在平板天线中，至少有一百多或数百个辐射单元，把它们一一联接起来，并且都达到匹配，这是件非常不容易做到的事。辐射单元越多，越难匹配。不匹配联接，势必增加损耗。

天线测量的典型配置

大多数普通天线的测量是测定其远场的辐射特性，组合天线厂家，如方向图（幅度、相位、较化）、旁瓣电平、增益、频带宽度等。本节将定义这些测量的基本概念。

为测量辐射特性的典型配置。基本步骤是将一副发射或接收的源天线放在相对于待测天线（AUT）的远场位置上，组合天线，待测天线架设在可旋转平台上，旋转待测天线，借以采集大量方向图取样值，组合天线工厂，实现天线辐射特性的测量。由于天线是电磁开放系统，测试环境对测量结果将产生影响，因此必须合理选择测试场地，尽量实现无反射的环境，如建造微波暗室等。